反射率測定装置
微小領域、曲面、極薄試料の高速・高精度測定を、かつてない低コストで実現します。
渋谷光学では、中国企業とのパートナーシップを活かし、コストパフォーマンスの高い反射率測定装置をご提供しています。
- MSP-100B 定価：4,400,000円（税込4,840,000円）
- デモをご希望の場合はお問い合わせください。
主な特長
- スポットサイズが小さく、微小点の測定が可能
- 測定時に背面の光が入り込まず、すりガラスや黒塗りによる消光処理が不要
- レンズと平面の両方を測定可能
- 操作が簡単で使いやすく、ソフトウェアのインターフェースもシンプル
- 可視光・UVモデルには背面照射型CCDセンサーを採用し、高い感度と信号対雑音比を実現
- 赤外モデルにはInGaAsセンサーを採用し、赤外領域に対する高い感度を確保
- 特殊ハーフミラー（特許取得済）の採用により裏面反射光をカットし、裏面処理なしで短時間かつ正確に測定可能
- 薄板0.2mmの反射率測定が可能（20倍対物レンズ使用時）
- レンズ曲面やコーティングむらも測定可能（試料面に微小スポット φ50μm）
- 低反射試料でも短時間で再現性の高い測定が可能
- 色度測定、L*a*b*測定に対応
- Microsoft Excel形式でデータ保存が可能
- 単層膜を非接触・非破壊で測定可能
- 同一画面上に複数の測定結果を表示でき、比較が容易
仕様
型番ごとの測定波長や共通仕様は下記表でご確認ください。
| 型番 | MSP-100B MSP-100IR MSP-100UV |
|---|---|
| 測定波長 | MSP-100B：350～1100nm MSP-100IR：900～1700nm MSP-100UV：230～800nm |
| 測定再現性（B型） | ±0.2％（380～450nm） ±0.02％（451～950nm） ±0.2％（951～1050nm） |
| 測定S/N比（B型） | 1000:1（400～900nm） |
| 試料側N.A. | N.A. 0.12（10倍対物レンズ使用時） |
| 試料の測定範囲 | φ50μm（10倍対物レンズ使用時） |
| 試料の曲率半径 | －1R～－∞、＋1R～∞ |
| 表示分解能 | 1nm |
| 測定時間 | 数秒～十数秒（サンプリング時間により異なる） |
| 外形寸法 | 幅230×高さ605×奥行510mm（本体のみ） |
| 重量 | 15kg |
| 電源ユニット | 供給電源：100～240VAC 消費電力：80W 出力ランプ電圧：5～10VDC 外形寸法：幅231×高さ130×奥行220mm 重量：2.5kg 使用温度範囲：18～28℃ 使用湿度：60％以下（結露なきこと） |
測定結果イメージ
