Laser flat interferometer

レーザー平面干渉計 G100M

100mmクラスの有効開口を備えた平面測定用レーザー干渉計です。

中国の光学機器の大手メーカーであるSHINE OPTICS社の高品質で低価格なレーザー平面干渉計G100Mをご紹介します。

  • 100mmの有効開口を備えたG100Mは、正立式構造を採用し平面部品の平置き測定・高精度測定に適します。
  • 高性能で長寿命のレーザー・高解像度の光学系・1~6倍の画像拡大機能・精密な平面標準ミラーなど
    最先端の技術を結集して高精度な平面光学部品の測定を実現します。
  • 位相シフト干渉縞解析ソフトウェア「Sirius」を搭載し測定精度と効率を向上します。
  • 測定デモやお客様のニーズに合わせたカスタマイズのご相談などお気軽にお問い合わせください。
レーザー平面干渉計G100M:写真1
レーザー平面干渉計G100M:写真2
レーザー平面干渉計G100M:写真3
レーザー平面干渉計G100M:写真4
レーザー平面干渉計G100M:写真5
レーザー平面干渉計G100M:写真6

仕様

型番 G100M
測定方法 フィゾーの干渉原理
有効通光口径 101.6mm
光源 He-Neレーザー
カメラ 1/1.2インチ, 有効画像数1.2K×1.2K
横解像度 全口径分解能ストライプ数>300セット
測定モード Sirius耐振機械位相シフトFPSIとPSI
RMS簡易繰り返し性 (2σ) <λ/3000
RMS波面繰り返し性 (mean+2σ) <0.6nm
変倍Zoom 光学ズーム連続可変1X-6X、小サイズも正確に測定できます。
アライメント方式 高速デジタルアライメントシステムDAS、アライメント角度±3°
瞳焦点調整範囲 ±2.5M
平面透過基準レンズ 石英、PV<λ/20
平面反射基準レンズ 微結晶、PV<λ/20
システム精度 PV<λ/20
干渉キャビティ内寸法 (長さ×幅×高さ) 540×360×360mm
機器寸法 (長さ×幅×高さ) 640×400×1100mm
機器重量 90KG
電源 100-240VAC, 50/60Hz
作業環境温度 15℃-30℃
温度変換 <0.5℃/h
湿度 ≤ 70%
防振 機械位相シフト測定モードの時は受動防振システムを使用してください。
品質基準 GJB/J6221-2008