解像度チャート

IEEEのSTD208-1995に適合したテストチャートで各種光学機器の性能評価に活用されます。
渋谷光学の解像度チャートは温度変化による変質に強い合成石英を使用しております。
お客様の用途に合わせポジタイプとネガタイプを標準品として取り揃えました。

• 特注のサイズやパターンも製作が可能です。お気軽にお問い合わせください。